蔡司：条纹投影的光学测量方法有什么优势？
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高精度光学三维扫描是目前光学测量领域的研究热点之一。其中，条纹投影扫描测量技术凭借非接触式测量、测量速度快以及测量精度高等优点，广泛应用于逆向工程、文物保护等复杂曲面几何参数的精密测量领域。然而，由于条纹投影扫描测量技术需要通过高阶模型进行标定，在测量中获取的各项数据在高阶模型中标定较为困难，从而影响了其测量结果稳定性。
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