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蔡司:条纹投影的光学测量方法有什么优势?
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高精度光学三维扫描是目前光学测量领域的研究热点之一。其中,条纹投影扫描测量技术凭借非接触式测量、测量速度快以及测量精度高等优点,广泛应用于逆向工程、文物保护等复杂曲面几何参数的精密测量领域。然而,由于条纹投影扫描测量技术需要通过高阶模型进行标定,在测量中获取的各项数据在高阶模型中标定较为困难,从而影响了其测量结果稳定性。

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